米国 Apre Instruments社の干渉計 及び
　　　　　　　　　　　アップグレードサービスのご紹介


１．新型干渉計S-Series
　 APRE社の新型ハイパフォーマンス干渉計S-Seriesの取り扱いを開始いたします。


APRE社独自のSCI技術により、



が可能になります。


２．干渉計アップグレードサービス
　 新型干渉計S-Seriesのソフトウェア（REVEAL(TM))を活用し、
　 お手持ちの干渉計のアップグレードを行います




１．新型干渉計 S-Series : ハイパフォーマンス干渉計

計測を進化させるApreの干渉縞解析システム

－エキスパートによる設計
－独自の回折限界光学設計
－高解像度イメージングシステム
－干渉計メーカが持つ問題を解消
－複数の波長と波長シフトオプション
－SCI装備







① 製品ラインアップ

[HR] Sシリーズ高分解能 - 最高性能の干渉計




[SR] Sシリーズ標準解像度 - 高性能干渉計



② ソフトウェア

■ REVEAL(TM)OEMソフトウェア：干渉縞解析ソフト



・測定からカスタムレポートまで10秒で
・Windows10 64-bit OS（7は、オプション対応）
・dat形式(Zygo)、hdf5形式(4D)ファイルに互換 		・OEM干渉計との接続が可能
・ウェブブラウザ調のインターフェイス画面
・解析ツリーで計測のトレーサビリティを確認可能

＜機能、および性能＞

アプリケーション ＜BASIC (標準)＞
　・Form
　・Radius of Curvature
＜フューリエ (オプション)＞
　・MTF, PSF, PSD
＜ショップテスト（オプション）＞
　・Wedge
　・PHom
　・Prism
　・Corner Cube 		フィルタ ・Masking
・Auto Aperture
・Reference subtract
・Box
・Erosion (inside/out)
・Median
・Individual Zernike
・Spike
・Affine Transforms
解析 ・測定モード
・Vibration Tolerant PSI
・Wavelength Shifting
・Carrier Fringe
・SCI
・Zernike
・3D View
・Sections
・PVr
・Islands
・ISO10110-14 		結果 ・ISO & Seidel
・PV, RMS
・PVr
・Tilt
・Power
・Astigmatism
・Coma
・SA3

③ SCI:Spectrally Controlled Interferometry 波長コントロール干渉計測

＜The Problem:マルチサーフェス干渉＞


多重反射での測定問題点

・正確で反復可能な測定を妨げる
・プラスチック平行光学系
・薄いメニスカスレンズ

一般的な簡易解決方法

・青テープ
・屈折率のマッチしたジェル
・ワセリン
・一時的なコーティング





なぜ干渉縞はこんなにも複雑なんだろうかと感じませんか？



＜3面空洞からのSCIデータ（TF - フロント - バック）＞




＜SCI Attributes）＞




＜SCI Thin Plate Measurement Results）＞




＜SCI のベネフィット（利点）＞

　・多重反射を排除します。
　・簡単なアライメント　 コヒーレント、インコヒーレント計測を切り替えられます。
　・測定ごとの位置再調整が必要ありません。
　・レーザースキャニングも不要です。
　・計測された面のリアルタイム状態表示が可能です。
　・メカニカルな駆動を必要としない位相シフト
　・フィゾーキャビティーに制限がありません。
　・縞の位置ズレは１カメラフレーム以内（要確認）
　・コモンパスなフィゾー式設計


お客様 (抜粋)



※「上記ロゴマークは各社の商標または登録商標です」




２．干渉計アップグレードサービス



・1K x 1Kデジタル計測用カメラ
・最新の電子機器と新しいデジタルアライメント用カメラ
・振動に強い位相シフト縞画像取得
・最新の64 Bit WindowsR OS 搭載PCによる制御
・REVEAL(TM)ソフトウェア：10秒未満で測定からレポート表示



各有名干渉計メーカーの干渉計に対応




① 干渉計測ノウハウ、経験を持っていること

⇒　カスタマイズニーズを具現化できます


② 豊富な干渉計アクセサリーを持っていること

⇒　エクスパンダー、レデューサーなど自社製アクセサリーを保有
　　（φ３３～φ５００に対応。ＴＳカスタマイズもお受けしています）


③ 計測レンジ、計測目的に合わせたソフトウェア提案ができること

⇒　Apre社製「REVEAL」をはじめとしたお客様ニーズに合わせた柔軟なソフト提案可能



お悩み

　　　　　パソコンのＯＳのサポートがなくなり、使えない干渉計がある


解決

　　　　　　　カメラ、ソフトウェア、パソコンの更新・調整し再活用












Apre社について

■ Apre Instruments 社（米国／USA）

２０１３年創業

　－創業者が発明したコアテクノロジ
　・環境振動に強い　　　　　・振動に強い位相シフトアルゴリズム
　・非球面計上に測定　　　　・ノイズの多いデータからしっかりしたデータ取得
　・グラフィック形式のユーザーインターフェイスソフトウェア
　・波長をコントロールした干渉計測

アメリカ東、西海岸にオフィスを設置

　－開発、製造、営業拠点／ Tucson,AZ
　－管理、マーケティング拠点／ Middletown, CT

人員拡大中

　－光学科学者　博士号取得者３名
　－修士号取得エンジニア１名& 修士号取得オプトメカニカルエンジニア１名
　－製造スタッフ、エンジニアリング・ロジスティクス　４名
　－マーケティングセールス　２名
　－学生インターン　２名
　－全世界的な営業、ディストリビューションチャンネル

新拠点：5,200 ft2 (500 m2) ← 2016から２倍に拡張


■ Apre Instruments: Who we are

・測定技術にフォーカス: 不計測のバラツキとトレーサビリティの追求
・顧客の必要性に柔軟な対応
・豊富な光学計測知識
・光学業界に特化

“高品質と応答性の高いサポートによる革新である。
　　F. Tinker, President AOS

“Apreには良い意味で非常に驚かされることばかりであり、今後とも長いお付き合いを望むところだ。"
　　Ted K., Blue Ridge Optics


■ Apreの優れた技術から提供する製品とサービス







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