薄い光学材料やプリズムを検査したい。均質性を検査したい。

お悩み

お悩み①

 今までの干渉計では、
 薄いものが検査できなくて
 困っている

お悩み②

 今までの干渉計では、
 プリズムの検査に手間が
 かかっている

お悩み③

 今まで均質性(ホモジニティ)
 を測れなかった

 保証ができない

 作業効率が悪い

 内部欠陥は、製品が
 完成してからでないと
 わからなかった

解決策

Apre社製干渉計のSCI(波長コントロール干渉計測)技術で解決します


Apre干渉計の詳細はこちら≫




お問い合わせ